Presisie Sapphire Venster

Optic-well bied 'n wye reeks saffiervensters, nie net vir verbruikersprodukte en industriële gebied nie.Ons verskaf ook presisie saffier vensters vir laboratoriums, navorsingsinstellings, presisie optiese instrumente vervaardiger.Ons Precision Sapphire Windows-koper het baie versoeke in gemeen.Hier lys ons 'n paar belangrike spesifikasies vir u verwysing.

Oppervlakkwaliteit:Volgens die Amerikaanse militêre standaard MIL-PRF-13830 word twee stelle getalle gebruik om die grootte van oppervlakdefekte aan te dui.Gebruik byvoorbeeld eersgenoemde 40/20 om die grootte van skrape te beperk, en laasgenoemde om die grootte van putte te beperk.Gewoonlik versoek presisie saffiervensters oppervlakkwaliteit gelykstaande aan of hoër as S/D 60/40

Oppervlakte platheid:Oppervlakvlakheid verwys na die afwyking van die makroskopiese konveksiteit van die substraat vanaf die standaard sjabloon.Platheid is 'n indeks wat die hoeveelheid verandering tussen die gemete voorwerp en standaard sjabloon beperk, en word gebruik om die vormfout van die gemete voorwerpe te beheer.

Ons gebruik plat kristal interferometrie om ons produkte te toets.Die werkoppervlak van die optiese plat kristal word gebruik om die ideale vlak te weerspieël, en die mate van kromming van die interferensierand word direk gebruik om die vlakheidsfoutwaarde van die gemete oppervlak te bepaal.Die aantal steurings wat tussen die gemete voorwerp en die standaard sjabloon gevorm word wanneer die plat kristal interferometrie gebruik word.Die optiese padverskil van 'n halwe golflengte vorm 'n diafragma , Dus gebruik ons ​​gewoonlik λ om die oppervlakvlakheid van optiese oppervlaktes uit te druk.Die beste wat ons kan doen λ/10 @633nm.

Parallelisme:Beteken die wiggies tussen twee plat oppervlaktes.Die beste kan tot binne 2 boogsekondes wees.

Vir meer inligting, kontak asseblief ons verkopers.

Ons het 'n paar presisie saffiervensters in voorraad, kyk asseblief na die volgende lys en kontak ons ​​as jy dit net wil koop.